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恒定濕熱試驗箱類型

更新時間:2024-04-25

簡要描述:

恒(heng)定濕熱試(shi)驗(yan)(yan)箱類型(xing):可(ke)程式恒(heng)溫恒(heng)濕試(shi)驗(yan)(yan)箱適(shi)用于電工、電子、儀器(qi)儀表及其它產品、零部件及材料在高低(di)溫交變(bian)濕熱環境下貯存、運輸、使用時(shi)的(de)適(shi)應性試(shi)驗(yan)(yan);

詳細介(jie)紹
品牌科寶產地國產
加工定制

恒定濕熱試驗箱類型

產(chan)品簡介:

可(ke)程式恒(heng)(heng)溫(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)適用于電(dian)工(gong)(gong)、電(dian)子、儀器(qi)儀表及(ji)其它產品(pin)、零部件及(ji)材(cai)料在(zai)高低溫(wen)交變濕(shi)熱(re)環境下(xia)貯存、運輸、使用時的適應性試(shi)(shi)驗(yan);是各類電(dian)子、電(dian)工(gong)(gong)、電(dian)器(qi)、塑膠等原材(cai)料和器(qi)件進行耐(nai)寒、耐(nai)熱(re)、耐(nai)濕(shi)、耐(nai)干性試(shi)(shi)驗(yan)及(ji)品(pin)管工(gong)(gong)程的可(ke)靠性測(ce)試(shi)(shi)設備(bei);特別適用于光纖(xian)、LCD、晶體(ti)、電(dian)感、PCB、電(dian)池、電(dian)腦、手機等產品(pin)的耐(nai)高溫(wen)、耐(nai)低溫(wen)、耐(nai)潮濕(shi)循環試(shi)(shi)驗(yan)。

制冷原理和機構

制冷(leng)(leng)(leng)循環(huan)(huan)均采用逆卡若循環(huan)(huan),該(gai)循環(huan)(huan)由兩(liang)個等(deng)溫(wen)過程(cheng)和兩(liang)個絕(jue)熱(re)(re)過程(cheng)組成(cheng),其過程(cheng)如下:制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)經(jing)(jing)壓縮機絕(jue)熱(re)(re)壓縮到(dao)較(jiao)高的壓力,消(xiao)耗了功(gong)使(shi)排氣(qi)溫(wen)度升高,之(zhi)后制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)經(jing)(jing)冷(leng)(leng)(leng)凝器(qi)等(deng)溫(wen)地和四(si)周介質(zhi)進行熱(re)(re)交換將(jiang)熱(re)(re)量(liang)傳給(gei)四(si)周介質(zhi)。后制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)經(jing)(jing)截流閥絕(jue)熱(re)(re)膨脹做功(gong),這(zhe)時制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)溫(wen)度降(jiang)低。最(zui)后制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)通過蒸發器(qi)等(deng)溫(wen)地從溫(wen)度較(jiao)高的物(wu)體吸熱(re)(re),使(shi)被冷(leng)(leng)(leng)卻物(wu)體溫(wen)度降(jiang)低。此循環(huan)(huan)周而復始從而達到(dao)降(jiang)溫(wen)之(zhi)目的。

恒定濕熱試驗箱類型

產品(pin)特點:

GB/T2423.1-2008 試驗A:低溫(wen)試驗方法(fa);       GB/T10589-2008 低溫(wen)試驗箱技術(shu)條(tiao)件;

GB/T2423.2-2008 試(shi)(shi)驗(yan)B:高溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法        GB/T11158-2008 高溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱技術條件(jian);

GB/T2423.3-2006 試(shi)驗(yan)Cab:恒(heng)定濕熱(re)(re)試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa);    GB/T10586-2006 濕熱(re)(re)試(shi)驗(yan)箱技術條(tiao)件;

GB/T2423.4-2008 試驗Db:交變濕熱試驗方法;     GB/T10592-2008 高(gao)低(di)溫試驗箱技(ji)術條(tiao)件(jian);

GB/T2423.22-2002試(shi)驗(yan)N:溫(wen)度變化(hua)試(shi)驗(yan)方法;      GJB150.3 高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan);

IEC60068-2-1:2007 低溫(wen)試驗箱試驗方法;      GJB150.4 低溫(wen)試驗;

IEC60068-2-2:2007 高溫(wen)試驗(yan)箱試驗(yan)方法;      GJB150.9 濕熱(re)試驗(yan);

IEC68-2-1 試(shi)驗A:寒冷(leng);              IEC68-2-2 試(shi)驗B:干(gan)熱;

注:產品具(ju)體(ti)參(can)數細節及優惠價格可詳談(tan);另可根據客戶需求進行定制


 


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